Soient X, Y deux espaces localement compacts, λ une mesure sur X, μ une mesure sur Y; il existe sur X×Y une mesure ν et une seule telle que, pour toute fonction g∈H(X;C) et toute fonction h∈H(Y;C), on ait*
∫g(x)h(y)dν(x,y)=(∫g(x)dλ(x))(∫h(y)dμ(y)).
Lemme 1
Soient X, Y deux espaces localement compacts, K (resp. L) une partie compacte de X (resp. Y). (i) La restriction à H(X×Y,K×L;C) de la bijection canonique ω:F(X×Y;C)→F(X;F(Y;C)) (Ens. R, § 4, n° 14) est une isométrie de l’espace de Banach K(X×Y,K×L;C) sur l’espace de Banach K(X,K;K(Y,L;C)).
(ii) L’espace vectorielK(X,K;C)⊗cK(Y,L;C), identifié canoniquement à un sous-espace deK(X×Y,K×L;C), (Alg., chap. II, 3e éd., § 7, no 7, commentaires suivant le cor. de la prop. 15) est dense dans cet espace de Banach.
Il est immédiat que l’image par ω de K(X×Y,K×L;C) est contenue dans K(X,K;K(Y,L;C)). Inversement, si u est une application continue de X dans K(Y,L;C), de support contenu dans K, l’application (x,y)↦u(x)(y) de X×Y dans C est continue et a son support contenu dans K×L, donc la restriction de ω à K(X×Y,K×L;C) est une bijection de cet espace sur K(X,K;K(Y,L;C)); le fait que cette restriction est une isométrie d’espaces de Banach résulte de la relation
(x,y)∈K×Lsup∣f(x,y)∣=x∈Ksup(y∈Lsup∣f(x,y)∣).
Ceci prouve (i); d’autre part, l’image par ω de
K(X,K;C)⊗cK(Y,L;C)
identifié à un sous-espace de K(X×Y,K×L;C), est l’espace K(X,K;C)⊗cK(Y,L;C) identifié canoniquement cette fois à un espace d’applications de X dans K(Y,L;C) (Alg., chap. II, 3e éd., § 7, no 7, cor. de la prop. 15); mais on sait que ce sous-espace de K(X,K;K(Y,L;C)) est dense dans ce dernier (§ 1, no 2, prop. 5), donc la conclusion de (ii) résulte de ce que la restriction de ω est un isomorphisme topologique.
Ce lemme étant démontré, notons maintenant que toute partie compacte de X×Y est contenue dans un produit K×L, où K (resp. L) est une partie compacte de X (resp. Y). Il résulte donc du lemme 1, (ii) que le sous-espace K(X;C)⊗cK(Y;C) est dense dans K(X×Y;C); comme la relation (1) s’écrit aussi ν(g⊗h)=λ(g)μ(h) pour g∈K(X;C),h∈K(Y;C), on en déduit aussitôt l’unicité de ν. Pour prouver l’existence de ν, nous utiliserons le lemme suivant:
Lemme 2
Les notations étant celles du lemme 1, pour toute fonction* f∈K(X×Y,K×L;C), la fonction
y↦h(y)=∫f(x,y)dλ(x)
appartient àK(Y,L;C).
En effet, pour toute fonction u∈K(X;K(Y,L;C)), l’intégrale ∫u(x)dλ(x) appartient à K(Y,L;C), puisque ce dernier est un espace de Banach (§3, n° 3, cor. 1 de la prop. 7); mais pour u=ω(f) et pour tout y∈Y, on a
⟨∫u(x)dλ(x),εy⟩=∫u(x)(y)dλ(x)=∫f(x,y)dλ(x)
d’où le lemme.
Considérons alors, pour toute fonction f∈K(X×Y;C), le nombre v(f)=μ(∫f(x,y)dλ(x)) (que nous noterons encore ∫dμ(y)∫f(x,y)dλ(x) par abus de notation); si K (resp. L) est une partie compacte de X (resp. Y), il existe un nombre aK (resp. bL) tel que, pour toute fonction g∈K(X,K;C) (resp. h∈K(Y,L;C)), on ait ∣λ(g)∣≤aK∥g∥ (resp. ∣μ(h)∣≤bL∥h∥). Il en résulte que pour toute fonction f∈K(X×Y,K×L;C), on a
∣∫f(x,y)dλ(x)∣≤aK∥f∥
pour tout y∈Y, puis ∣v(f)∣≤aKbL∥f∥. La forme linéaire v sur K(X×Y;C) est donc une mesure sur X×Y et vérifie (1) de façon évidente, ce qui achève la démonstration du th. 1.
Définition 1
Etant données deux mesures λ,μ définies respectivement sur deux espaces localement compacts X,Y, on appelle mesure produit de λ par μ l’unique mesure v sur X×Y satisfaisant à la relation (1) pour toute fonction g∈K(X;C) et toute fonction h∈K(Y;C).
Dans la démonstration du th. 1, on peut intervertir les rôles des espaces X et Y; identifiant canoniquement Y×X et X×Y, on définit ainsi sur X×Y la mesure
f↦∫dλ(x)∫f(x,y)dμ(y),
qui satisfait encore à la condition (1). On a donc démontré le théorème suivant:
Théorème 2
Soient λ,μ deux mesures définies respectivement sur deux espaces localement compacts X,Y. Pour toute fonction f de K(X×Y;C), l’intégrale de f par rapport à la mesure produit v de λ par μ a pour valeur
∫f(x,y)dv(x,y)=∫dλ(x)∫f(x,y)dμ(y)
=∫dμ(y)∫f(x,y)dλ(x).
En raison de cette dernière formule, l’intégrale de f par rapport à la mesure produit ν se note le plus souvent ∫∫∫dλdμ, ou ∫∫fdμdλ, ou ∫∫fλμ, ou ∫∫fμλ, ou ∫∫f(x,y)dλ(x)dμ(y), ou ∫∫f(x,y)dμ(y)dλ(x), ou ∫∫f(x,y)λ(x)μ(y), ou ∫∫f(x,y)μ(y)λ(x); on dit que c’est l’intégrale double de f par rapport à λ et à μ. Avec cette notation, la formule (3) s’écrit
(4)
∫∫∫f(x,y)dλ(x)dμ(y)=∫dλ(x)∫f(x,y)dμ(y)
=∫dμ(y)∫f(x,y)dλ(x).
La formule (3) montre que si λ et μ sont des mesures réelles (resp. positives), la mesure produit ν est réelle (resp. positive).
Exemple 1
La mesure produit des mesures de Dirac εx (x∈X) et εy (y∈Y) est la mesure de Dirac ε(x,y).
Exemple 2
Prenons X=Y=R, et pour λ et μ la mesure de Lebesgue (§ 1, n° 3) sur R; leur produit est appelé la mesure de Lebesgue sur R2; l’intégrale d’une fonction f∈H(R2;C) par rapport à cette mesure se note ∫∫f(x,y)dxdy ou ∫∫f(x,y)dydx; la formule (4), pour une fonction nulle hors d’un pavé compact [a,b]×[c,d], entraîne la formule
∫cddy∫abf(x,y)dx=∫abdx∫cdf(x,y)dy
démontrée dans Fonct. var. réelle, chap. II, § 3, n° 6.
Comme la mesure de Lebesgue sur R est invariante par toute translation (§ 1, n° 3), il en résulte aussitôt que la mesure de Lebesgue sur R2 est invariante par toute translation de R2.
Remarque
Soit E un espace localement convexe séparé, et soit f une application de H(X×Y;E) telle que f(X×Y) soit contenu dans une partie convexe complèteC de E. Pour tout y∈Y, l’intégrale h(y)=∫f(x,y)dλ(x) appartient alors à E (§ 3, n° 3, prop. 7); en outre, la fonction h appartient à H(Y;E): en effet, pour tout z′∈E′, on a
⟨h(y),z′⟩=∫⟨f(x,y),z′⟩dλ(x),
donc y↦⟨h(y),z′⟩ appartient à H(Y;C) en vertu du lemme 2. L’intégrale ∫hdμ est donc définie (et a priori appartient à E′∗); montrons que l’on a (5)
∫∫f(x,y)dλ(x)dμ(y)=∫dμ(y)∫f(x,y)dλ(x)
=∫dλ(x)∫f(x,y)dμ(y)
généralisant ainsi la formule (4). En effet, pour tout z′∈E′, on a
⟨∫∫fdλdμ,z′⟩=∫∫⟨f,z′⟩dλdμ=∫dμ∫⟨f,z′⟩dλ
=∫⟨∫fdλ,z′⟩dμ=⟨∫dμ∫fdλ,z′⟩
en vertu de (4), d’où (5).
2. Propriétés des mesures produits
Si λ (resp. μ) est une mesure sur X (resp. Y) et ν la mesure produit de λ par μ, la restriction de ν à K(X;C)⊗cK(Y;C) n’est autre que le produit tensoriel λ⊗μ des deux formes linéaires λ et μ (Alg., chap. II, 3e éd., § 3, n° 2), car la relation (1) du n° 1 s’écrit ⟨g⊗h,ν⟩=⟨g,λ⟩⟨h,μ⟩=⟨g⊗h,λ⊗μ⟩ quels que soient g∈K(X;C) et h∈K(Y;C). Par abus de langage, nous noterons encore λ⊗μ la mesure produit ν (et non seulement sa restriction au sous-espace partout dense K(X;C)⊗cK(Y;C) de K(X⊗Y;C)).
L’application (λ,μ)↦λ⊗μ de M(X;C)×M(Y;C) dans M(X×Y;C) est évidemment bilinéaire, en vertu de la formule (3) du n° 1.
Proposition 1
Soient λ une mesure sur X, μ une mesure Y; si g∈C(X;C),h∈C(Y;C), on a*
(6)
(g.λ)⊗(h.μ)=(g⊗h).(λ⊗μ).
En effet, pour toute fonction f∈K(X×Y;C), on a, en vertu de la formule (3) du n° 1,
⟨f,(g⊗h).(λ⊗μ)⟩=∫dλ(x)∫f(x,y)g(x)h(y)dμ(y)
=∫g(x)dλ(x)∫f(x,y)h(y)dμ(y)
ce qui prouve la formule (6).
Proposition 2
Le support du produit λ⊗μ est égal au produit du support de λ et du support de μ.
Remarquons en premier lieu que la relation λ⊗μ=0 entraîne que l’une des mesures λ,μ est nulle (Alg., chap. II, 3e éd., § 7, n° 7, prop. 16, (ii)). D’autre part, si U (resp. V) est un ensemble ouvert dans X (resp. Y), la restriction de λ⊗μ au produit U×V est le produit des restrictions de λ à U et de μ à V, comme il résulte du th. 1 du n° 1 et de la définition de la restriction d’une mesure à un ensemble ouvert (§ 2, n° 1). Pour que la restriction de λ⊗μ à U×V soit nulle, il faut et il suffit par conséquent que la restriction de λ à U ou la restriction de μ à V soit nulle, ce qui démontre la proposition, compte tenu de la définition du support d’une mesure (§ 2, n° 2).
Proposition 3
Soient* λ∈M(X;C), μ∈M(Y;C). On a
∣λ⊗μ∣=∣λ∣⊗∣μ∣.
(7)
Soient f∈K+(X×Y), g∈K(X×Y;C) telles que ∣g∣≤f; on a (§ 1, n° 6, formule (13))
On en conclut que ⟨f,∣λ⊗μ∣⟩≤⟨f,∣λ∣⊗∣μ∣⟩, et finalement
∣λ⊗μ∣≤∣λ∣⊗∣μ∣.
(8)
D’autre part, soient u∈K+(X), v∈K+(Y). Pour tout ε>0, il existe u1∈K(X;C), v1∈K(Y;C) telles que ∣u1∣≤u, ∣v1∣≤v et
∣⟨u1,λ⟩∣≥⟨u,∣λ∣⟩−ε,∣⟨v1,μ⟩∣≥⟨v,∣μ∣⟩−ε
(§ 1, n° 6). On en déduit que ∣u1⊗v1∣≤u⊗v, et
⟨u⊗v,∣λ⊗μ∣⟩≥∣⟨u1⊗v1,λ⊗μ⟩∣=∣⟨u1,λ⟩⟨v1,μ⟩∣
≥(⟨u,∣λ∣⟩−ε)(⟨v,∣μ∣⟩−ε).
Comme ε est arbitraire, on en conclut que
⟨u⊗v,∣λ⊗μ∣⟩≥⟨u,∣λ∣⟩⟨v,∣μ∣⟩=⟨u⊗v,∣λ∣⊗∣μ∣⟩.
Compte tenu de (8), on voit que
⟨u⊗v,∣λ⊗μ∣⟩=⟨u⊗v,∣λ∣⊗∣μ∣⟩.
Toute fonction de K(X;C) (resp. K(Y;C)) étant combinaison linéaire de fonctions de K+(X) (resp. K+(Y)), la formule précédente est encore vraie pour u∈K(X;C) et v∈K(Y;C); la proposition résulte donc de ce que K(X;C)⊗CK(Y;C) est dense dans K(X×Y;C).
en convenant de remplacer le second membre par 0 lorsque l’un des facteurs est 0 et l’autre +∞. En particulier, si λ et μ sont bornées, λ⊗μ est bornée.
En vertu de la prop. 3 ci-dessus, et du § 1, n° 8, cor. de le prop. 10, on peut se ramener au cas où λ et μ sont des mesures positives. Si λ=0 ou μ=0, le résultat est trivial ; supposons donc λ=0 et μ=0. Prouvons d’abord que ∥λ⊗μ∥≤∥λ∥⋅∥μ∥. On peut supposer λ et μ bornées. Pour toute f∈K+(X×Y), on a
⟨f,λ⊗μ⟩=∫dλ(x)∫f(x,y)dμ(y)
et
∫f(x,y)dμ(y)≤∥f∥⋅∥μ∥
pour tout x∈X, donc
⟨f,λ⊗μ⟩≤∥f∥⋅∥λ∥⋅∥μ∥,
ce qui démontre notre assertion. D’autre part, soient
α<∥λ∥,β<∥μ∥
deux nombres réels ≥0. Il existe g∈K+(X),h∈K+(Y) telles que ∥g∥≤1,∥h∥≤1,λ(g)≥α,μ(h)≥β. Alors on a g⊗h∈K+(X×Y), ∥g⊗h∥≤1 et ⟨g⊗h,λ⊗μ⟩≥αβ; donc ∥λ⊗μ∥≥αβ et finalement ∥λ⊗μ∥≥∥λ∥⋅∥μ∥, ce qui achève la démonstration.
3. Continuité des mesures produits
Proposition 5
Pour toute mesure λ0∈M(X;C), l’application μ↦λ0⊗μ de M(Y;C) dans M(X×Y;C) est vaguement continue.
En effet, pour toute fonction f∈K(X×Y;C), on sait que la fonction h(y)=∫f(x,y)dλ0(x) appartient à K(Y;C) (n° 1, lemme 2), et l’on a ⟨f,λ0⊗μ⟩=⟨h,μ⟩, d’où la proposition.
Proposition 6
Lorsqu’on munit M(X;C),M(Y;C) et M(X×Y;C) de la topologie de la convergence strictement compacte (§ 1, n° 10), l’application bilinéaire (λ,μ)↦λ⊗μ de M(X;C)×M(Y;C) dans M(X×Y;C) est hypocontinue pour les ensembles de parties vaguement bornées de M(X;C) et M(Y;C) (Esp. vect. top., chap. III, § 4, n° 2).
Soient K⊂X,L⊂Y deux ensembles compacts, A une partie compacte de K(X×Y,K×L;C), B une partie vaguement bornée et fermée de M(X;C); on sait que B est vaguement compacte (§ 1, n° 9, prop. 15), donc aussi compacte pour la topologie de la convergence strictement compacte (§ 1, n° 10, prop. 17). D’autre part, l’espace de Banach K(X×Y,K×L;C) est isométrique à K(X,K;K(Y,L;C)) (n° 1, lemme 1); l’application φ de K(X,K;K(Y,L;C))×M(X;C) dans K(Y,L;C) telle que φ(g,λ) soit la fonction h définie par h(y)=∫g(x,y)dλ(x), est séparément continue en vertu du § 3, n° 4, prop. 8 et 9. Comme K(X,K;K(Y,L;C)) est tonnelé, on en conclut que l’application φ est hypocontinue relativement aux parties vaguement bornées de M(X;C) (Esp. vect. top., chap. III, § 4, n° 2, prop. 6); la restriction de cette application à A×B est donc continue (loc. cit., prop. 4). L’image C de A×B par cette application est par suite une partie compacte de l’espace de Banach K(Y,L;C). Or, C n’est autre que l’ensemble des fonctions h(y)=∫f(x,y)dλ(x) lorsque f parcourt A et λ parcourt B; en vertu de la formule (3) du n° 1, les conditions λ∈B et μ∈C∘ entraînent donc λ⊗μ∈A∘. En vertu de la définition de la topologie de la convergence strictement compacte, cela prouve la proposition (Esp. vect. top., chap. III, § 4, n° 2, déf. 2).
La conclusion de la prop. 6 n’est plus valable lorsqu’on remplace la topologie de la convergence strictement compacte par la topologie vague (exerc. 2c)). Toutefois, si B (resp. C) est une partie vaguement bornée de M(X,C) (resp. M(Y;C)), l’image de B×C par l’application (λ,μ)↦λ⊗μ est vaguement bornée dans M(X×Y;C) en vertu de la prop. 6, donc la restriction de cette application à B×C est vaguement continue en vertu de la prop. 4 et du § 1, n° 10, prop. 17 (cf. exerc. 3).
4. Produit d’un nombre fini de mesures
Soient Xi (1≤i≤n) n espaces localement compacts, X=∏i=1nXi leur produit. L’ensemble des combinaisons linéaires des fonctions complexes de la forme
(x1,x2,…,xn)↦f1(x1)f2(x2)…fn(xn)
s’identifie canoniquement au produit tensoriel ⨂i=1nK(Xi;C), et il résulte du lemme 1 du n° 1, par récurrence sur n, que ce produit tensoriel est dense dans K(X;C).
Soit alors μi une mesure sur Xi (1≤i≤n); il existe sur X une mesure ν et une seule telle que, pour fi∈K(Xi;C) (1≤i≤n), on ait
⟨f1⊗f2⊗⋯⊗fn,ν⟩=i=1∏n⟨fi,μi⟩.
En effet, si cette mesure existe, elle est unique d’après ce qui précède. D’autre part, soit ν=μ1⊗μ2⊗⋯⊗μn la mesure sur X définie par la relation de récurrence sur n
μ1⊗μ2⊗⋯⊗μn=(μ1⊗μ2⊗⋯⊗μn−1)⊗μn.
Il résulte du n° 1, formule (1) et de cette définition (par récurrence sur n) que ν vérifie (11); on dit que c’est la mesure produit des mesures μi (1≤i≤n), et on la note encore ⨂i=1nμi.
La relation (11) s’écrit aussi
⟨f1⊗f2⊗⋯⊗fn,μ1⊗μ2⊗⋯⊗μn⟩=i=1∏n⟨fi,μi⟩.
Proposition 7 (« associativité du produit de mesures »). — Soit (Ik)1≤k≤r une partition de l’intervalle [1,n] dans N; on a
k=1⨂r(i∈Ik⨂μi)=i=1⨂nμi.
En effet, ces deux mesures coïncident, d’après (12), pour toute fonction de ⨂i=1nK(Xi;C).
L’intégrale d’une fonction f∈K(X;C) par rapport à la mesure produit se note
∫fdμ1dμ2…dμn,
ou
∬…∫fdμ1dμ2…dμn
ou
∫f(μ1⊗⋯⊗μn)
ou encore
∬…∫f(x1,x2,…,xn)dμ1(x1)dμ2(x2)…dμn(xn)
ou
∬…∫f(x1,x2,…,xn)μ1(x1)μ2(x2)…μn(xn)
avec n signes ∫; on dit que c’est une intégrale multiple d’ordre n ou intégrale n-uple. En vertu de l’associativité du produit de mesures et du théorème d’interversion des intégrations (n° 1, th. 2), on a, pour toute permutation σ de {1,n},
(14)
∬…∫fdμ1dμ2…dμn=∫dμσ(1)∫dμσ(2)…∫fdμσ(n).
La notation de l’intégrale et la formule (14) s’étendent de façon évidente aux fonctions f∈K(X;E) à valeurs dans un espace localement convexe séparé E, telles que f(X) soit contenu dans une partie convexe complète de E. Nous laissons au lecteur le soin de généraliser au produit d’un nombre fini quelconque de mesures les résultats des n°s 2 et 3 concernant le produit de deux mesures.
En particulier, on appelle mesure de Lebesgue sur Rn le produit de n mesures identiques à la mesure de Lebesgue sur R; l’intégrale d’une fonction f∈K(Rn;E), satisfaisant à la condition précédente, se note
∬…∫f(x1,x2,…,xn)dx1dx2…dxn
et est égale à
∫−∞+∞dx1∫−∞+∞dx2…∫−∞+∞f(x1,x2…,xn)dxn.
La mesure de Lebesgue sur Rn est invariante par toute translation.
5. Limites projectives de mesures
Soient X, Y deux espaces compacts, p:X→Y une application continue; alors f↦f∘p est une application linéaire continue de C(Y;C) dans C(X;C), puisque l’on a ∥f∘p∥≤∥f∥ pour toute fonction f∈C(Y;C); nous noterons p′ cette application. Sa transposée tp′:M(X;C)→M(Y;C) est donc telle que, pour toute mesure μ sur X, tp′(μ) soit la mesure sur Y telle que
⟨tp′(μ),f⟩=⟨μ,f∘p⟩
pour toute fonction f∈C(Y;C). On observera que pour tout x∈X, on a tp′(εx)=εp(x); pour cette raison, on notera p∗(μ) la mesure tp′(μ), qui prolonge donc p lorsqu’on plonge canoniquement X (resp. Y) dans M(X;C) (resp. M(Y;C)) (§ 1, n° 9, prop 13); pour toute mesure μ sur X, p∗(μ) est un cas particulier de la notion générale d’image d’une mesure, que nous étudierons au chap. V, § 6. Comme on a vu ci-dessus que l’on a ∥p′∥≤1, on a aussi ∥tp′∥≤1, et par suite
∥p∗(μ)∥≤∥μ∥
pour toute mesure μ∈M(X;C).
Considérons maintenant un ensemble préordonné filtrant I, un système projectif (Xα,pαβ) d’espaces compacts Xα (Top. gén., chap. I, 3e éd., § 4, n° 4) ayant I pour ensemble d’indices; on sait que l’espace limite projective X=lim←Xα est compact (Top. gén., chap. I, 3e éd., § 9, n° 6, prop. 8); nous désignerons par pα l’application canonique de X dans Xα.
Il est clair que (M(Xα;C),(pαβ)∗) est un système projectif d’espaces vectoriels, et que ((pα)∗) est un système projectif d’applications linéaires, ce qui justifie la définition suivante:
Définition 2
On dit qu’une famille (μα)α∈I, où, pour tout α∈I, μα est une mesure sur Xα, est un système projectif de mesures si, pour α≤β, on a μα=(pαβ)∗(μβ). On dit qu’une mesure μ sur X=lim←Xα est limite projective du système projectif (μα) si, pour tout α∈I, on a μα=(pα)∗(μ).
Proposition 8
(i) Si un système projectif (μα) de mesures sur les Xα admet une limite projective, celle-ci est unique.
(ii) Si un système projectif (μα) admet une limite projective, la famille des normes (∥μα∥) est bornée.
(iii) Si les pαβ sont surjectives et la famille (∥μα∥) bornée; le système projectif de mesures (μα) admet une limite projective.
(iv) Si les pαβ sont surjectives, tout système projectif (μα) de mesures positives admet une limite projective μ, qui est une mesure positive sur X, et l’on a ∥μ∥=∥μα∥ pour tout α.
(i) Nous prouverons d’abord le lemme suivant:
Lemme 3
Soit F l’ensemble des fonctions f∈C(X;C) ayant la propriété suivante: il existe un α∈I et une fonction fα∈C(Xα;C) tels que f=fα∘pα. Alors F est un sous-espace vectoriel partout dense de C(X;C).
Notons d’abord que si g=gβ∘pβ et h=hγ∘pγ, où gβ∈C(Xβ;C) et hγ∈C(Xγ;C), il existe α∈I tel que α≥β et α≥γ, et l’on a donc pβ=pβα∘pα, pγ=pγα∘pα, ce qui montre que
g+h=(gβ∘pβα+hγ∘pγα)∘pα
appartient à F; on voit de même que gh∈F; F est donc une sous-C-algèbre de C(X;C), qui contient les constantes et est telle que la relation f∈F entraîne fˉ∈F. Enfin, si x=y sont deux points de X, il existe α∈I tel que pα(x)=pα(y), donc il y a une fonction fα∈C(Xα;C) telle que fα(pα(x))=fα(pα(y)). La conclusion résulte par suite du th. de Weierstrass–Stone (Top. gén., chap. X, 2e éd., § 4, n° 4, prop. 7).
Ce lemme étant établi, soient μ,μ′ deux mesures sur X telles que (pα)∗(μ)=(pα)∗(μ′) pour tout α∈I; cela signifie que, pour tout α∈I et toute fonction fα∈C(Xα;C), on a
⟨fα,(pα)∗(μ)⟩=⟨fα,(pα)∗(μ′)⟩,
ou encore ⟨fα∘pα,μ⟩=⟨fα∘pα,μ′⟩; autrement dit, μ et μ′ coïncident dans le sous-espace F de C(X;C), qui est partout dense en vertu du lemme 3, donc μ=μ′, ce qui démontre (i).
(ii) La relation (15) appliquée à pα montre que si μ est limite projective du système projectif (μα), on a nécessairement
∥μ∥≥∥μα∥
pour tout α∈I.
(iii) Supposons les pαβ surjectives; on sait qu’il en est alors de même des pα (Top. gén., chap. I, 3e éd., § 9, n° 6, prop. 8). Considérons un système projectif de mesures (μα), et montrons d’abord qu’il existe sur F (avec les notations du lemme 3) une forme linéaire λ telle que pour tout α∈I et toute fα∈C(Xα;C), on ait λ(f_α \circ p_α) = μ_α(f_α). En effet, soient β, γ deux indices dans I, f_β ∈ C(X_β ; C), f_γ ∈ C(X_γ ; C) deux fonctions telles que f_β \circ p_β = f_γ \circ p_γ ; il existe alors un indice α ∈ I tel que α ≥ β et α ≥ γ, donc p_β = p_{βα} \circ p_α, p_γ = p_{γα} \circ p_α, et (f_β \circ p_{βα}) \circ p_α = (f_γ \circ p_{γα}) \circ p_α ; comme p_α est surjective, cela entraîne f_β \circ p_{βα} = f_γ \circ p_{γα}, donc
μα(fβ∘pβα)=μα(fγ∘pγα);
mais par définition cette dernière relation s’écrit aussi μβ(fβ)=μγ(fγ), d’où notre assertion.
Cela étant, supposons qu’il existe un nombre fini a>0 tel que ∥μα∥≤a pour tout α∈I; alors, on a, pour toute fonction fα∈C(Xα;C)
∣λ(fα∘pα)∣=∣μα(fα)∣≤a∥fα∥=a∥fα∘pα∥
puisque pα est surjective. Ceci montre que la forme linéaire λ est continue dans F, et il résulte du lemme 3 que λ se prolonge en une mesure μ sur X telle que (pα)∗(μ)=μα pour tout α∈I, ce qui prouve (iii).
(iv) Pour prouver l’existence de μ, il suffit, en vertu de (iii), de vérifier que la famille des normes (∥μα∥) est bornée. Mais on a ∥μα∥=μα(1), et pour α≤β, la relation μα=(pαβ)∗(μβ) entraîne que μα(1)=μβ(1); comme I est filtrant, les masses totales de toutes les mesures μα sont donc égales, d’où notre assertion. En outre, le sous-espace F vérifie de façon évidente la propriété (P) du § 1, n° 7, prop. 9, donc la mesure μ, limite projective de (μα), est positive. Enfin la relation μα=(pα)∗(μ) montre comme ci-dessus que μ(1)=μα(1).
Exemple
Soit (Xλ)λ∈L une famille d’espaces compacts; posons X=∏λ∈LXλ, et pour toute partie finie J de L, posons XJ=∏λ∈JXλ; désignons par prJ:X→XJ, et prJ,K:XK→XJ (pour J⊂K) les projections canoniques. On sait que (XJ,prJK) est un système projectif d’espaces compacts, et que la limite projective du système d’applications continues (prJ) est un homéomorphisme de X sur l’espace limite projective lim←XJ, permettant d’identifier ces deux espaces (Top. gén., chap. I, 3e éd., § 4, n° 4 et Ens. chap. III, 2e éd., § 7, n° 2, Remarque 3). Comme les projections prJ,K sont surjectives, il résulte de la prop. 8 que l’ensemble M(X;C) (resp. M+(X)) s’identifie à l’ensemble des systèmes projectifs (μJ) tels que la famille des normes (∥μJ∥) soit bornée (resp. tels que les μJ soient toutes positives, et nécessairement de même masse totale).
Considérons en particulier le cas où, pour chaque λ∈L, on prend une mesure μλ sur Xλ, et où on pose μJ=⨂λ∈Jμλ. Si J⊂K sont deux parties finies de I, on a alors, pour toute fonction fJ∈C(XJ;C), en vertu de la formule (14) du n° 4,
μK(fJ∘prJ,K)=μJ(fJ)⋅λ∈K−J∏μλ(1).
Pour que (μJ) soit un système projectif de mesures, il faut et il suffit donc que l’on ait, soit μλ=0 pour tout λ∈L, soit μλ(1)=1 pour tout λ∈L.
6. Produits infinis de mesures
Soit (Xλ)λ∈L une famille d’espaces compacts, et pour tout λ∈L, soit μλ une mesure sur Xλ. Gardons les notations de l’Exemple du n° 5, de sorte qu’en particulier on a μJ=⨂λ∈Jμλ pour toute partie finie J de L.
Proposition 9
Supposons que toutes les mesures μλ soient positives et que la famille (μλ(1))λ∈L soit multipliable dans R+ (le produit pouvant avoir la valeur 0). Alors il existe sur X une mesure μ et une seule telle que, pour toute partie finie J de L et toute fonction fJ∈C(XJ;C), on ait
μ(fJ∘prJ)=μJ(fJ)λ∈L−J∏μλ(1).
En outre, la mesure μ est positive et sa masse totale est donnée par
μ(1)=λ∈L∏μλ(1).
Soit F l’espace vectoriel formé des fonctions sur X de la forme fJ∘prJ, où J parcourt l’ensemble filtrant des parties finies de L, et fJ∈C(XJ;C); on dit encore que F est l’espace des fonctions continues dans Xne dépendant que d’un nombre fini de variables. Le lemme 3 du n° 5 montre que F est dense dans C(X;C), ce qui prouve l’assertion d’unicité. Si, pour un λ∈L, on a μλ=0, la mesure μ=0 répond à la question, puisque dans le second membre de (18), on a μJ(fJ)=0 si λ∈J, et ∏λ∈L−Jμλ(1)=0 si λ∈/J. On peut donc supposer μλ=0 pour tout λ∈L, et comme les mesures μλ sont positives, cela entraîne μλ(1)=0 pour tout λ∈L. Posons alors μλ′=μλ/μλ(1) pour tout λ∈L, de sorte que μλ′ est une mesure positive sur Xλ telle que μλ′(1)=1. Il résulte alors de la prop. 8 du n° 5 qu’il existe sur X une mesure positive μ′ de masse totale 1, telle que l’on ait μ′(fJ∘prJ)=μJ′(fJ) pour toute partie finie J de L et toute fonction fJ∈C(XJ;C). La mesure positive
μ=(λ∈L∏μλ(1))μ
répond alors à la question, puisque l’on a
μJ(fJ)=μJ′(fJ)⋅λ∈J∏μλ(1),
λ∈L∏μλ(1)=λ∈J∏μλ(1)⋅λ∈L−J∏μλ(1).
On dit que la mesure μ définie dans la prop. 9 est la mesure produit de la famille de mesures positives (μλ)λ∈L, et on la note ⨂λ∈Lμλ.
Corollaire
Supposons vérifiées les conditions de la prop. 9, et soit (Lρ)ρ∈R une partition de L. Alors chacune des familles de mesures (μλ)λ∈Lρ admet une mesure produit, la famille des mesures produits (⨂λ∈Lρμλ)ρ∈R admet une mesure produit, et l’on a
ρ∈R⨂λ∈Lρ⨂μλ=λ∈L⨂μλ.
Cela résulte aussitôt des formules (18) et (19) et de l’associativité du produit pour les familles multipliables dans R+ (Top. gén., chap. IV, 3e éd., § 7, n° 5, Remarque).